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反射率測量系統
光譜儀,光源和樣品附件組成的系統,適用于鏡片等的反射率測量,同樣適用于反射顏色的測量。
通用系統 |
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輻射測量
測量太陽(yáng)光,太陽(yáng)光模擬器和發(fā)光光源的絕對輻射光譜。
通用系統 |
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光譜輻射計
JETI高精度、小型光譜輻射計,可測量連續脈沖、單脈沖及連續光源,可以用于實(shí)驗室和生產(chǎn)環(huán)境中的測量。
Specbos 1201 |
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等離子監控 電弧光測量
使用光譜儀和探頭測量等離子體,定性的分析元素成分和做過(guò)程控制。
通用系統
PlasCalc |
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LIBS元素分析
使用高分辨率光譜儀和激光器同步,測量樣品在激光器激發(fā)下產(chǎn)生的等離子體,定性和定量分析樣品中的元素
半定量系統LIBS
定量系統LAMP |
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氧含量傳感系統
使用特制的氧含量傳感探頭,通過(guò)熒光測量和相位測量的方法來(lái)實(shí)時(shí)得到溶解氧的濃度。
NEOFOX |
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原子力顯微鏡共聚焦光譜儀
整合掃描探針顯微鏡、共聚焦顯微鏡和拉曼光譜儀,同時(shí)得到樣品表明的光譜和形態(tài)信息,將樣品表面的形態(tài)圖和化學(xué)組分結合。
NanoFlex |
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