硅晶電池片反射率儀

R9000硅晶電池片反射率儀
太陽(yáng)能領(lǐng)域全自動(dòng)兩維掃描反射率儀

通過(guò)反射率測量進(jìn)行絨化控制
通過(guò)顏色和厚度測量進(jìn)行減反射膜控制

產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 膜層反射率、膜厚和顏色的離線(xiàn)測量
  用于研發(fā)，生產(chǎn)過(guò)程對鍍膜工藝的質(zhì)量控制
  設計人性化
  精確，重復性好
  性?xún)r(jià)比高
  具有全部知識產(chǎn)權，定制設計平臺好
  檢測速度快，檢測工序簡(jiǎn)單

開(kāi)機無(wú)需預熱；測試同一塊樣品，節約工人時(shí)間50%以上；

連續測試樣品，節約工人時(shí)間80%以上。

R9000系列設計精度更高，樣品更加貼近積分球，測量的反射率更加準確。

小提示：按照國際上通行的光譜測量標準（CIE），漫反射樣品的反射率測量需要使用積分球。因此，要獲得電池片絨面反射率的準確數據，需要使用積分球。積分球在使用中要求樣品盡量貼近開(kāi)口。樣品離積分球開(kāi)口越近，積分球收集到的光越多，反射率測量越準確。

高性?xún)r(jià)比和售后服務(wù)

同樣價(jià)格更多實(shí)用配置和功能。
每臺儀器都選用高質(zhì)量零件，零件全檢，系統出場(chǎng)前必須全部通過(guò)測試。
廠(chǎng)家隨同儀器提供完整的技術(shù)資料和軟件。
免費培訓用戶(hù)技術(shù)人員2人，并進(jìn)行操作演示、技術(shù)咨詢(xún)及數據處理等培訓。
維修響應時(shí)間：賣(mài)方接到買(mǎi)方的維修通知后24-48小時(shí)迅速響應。
免費質(zhì)保期內賣(mài)方負責所有因設備質(zhì)量問(wèn)題而產(chǎn)生的費用。
質(zhì)保期后的服務(wù)后，提供終身維護服務(wù)，只按廠(chǎng)價(jià)收取所換的成本費，不收維護費。
國內設有物流中心，免去了購買(mǎi)進(jìn)口產(chǎn)品不可避免的維修周期長(cháng)的弊病和高關(guān)稅。
自主研發(fā)，具有更大的自主改進(jìn)和開(kāi)行性，對不同的客戶(hù)要求可以積極有效的響應。

R9000-2DMA自動(dòng)圖譜（Mapping）功能

-單塊片子反射率并不均勻，傳統反射率儀器只能測試某一點(diǎn)，多點(diǎn)測試靠人工移動(dòng)，數據沒(méi)有可比性。

-R9000 提供全自動(dòng)多點(diǎn)掃描功能，讓您更準確了解自己的產(chǎn)品情況

R9000-2DMA應用

電池片（Cell/module) 減反工藝，優(yōu)化及監控包括：
酸制絨工藝； 堿制絨工藝； SiNx 減反膜工藝； 復合減反膜工藝
EVA封裝工藝； TiO2減反膜工藝； SiO2鈍化工藝； 光伏（絨面）玻璃封裝工藝

裸片和鍍膜片測量裸片和鍍膜片測量:
兩維掃描（Mapping）
快速，操作方便
積分式、非接觸

測量參數：
單點(diǎn)反射率
兩維掃描反射率
電池片不均勻度
膜厚
色度（顏色）

產(chǎn)品組件:
兩維全自動(dòng)反射率儀R9000-2DMA
標準白參考瓦
標準鏡面反射體
控制軟件Morpho-R9MA
膜厚及色度分析軟件
燈泡

用于檢測所有相關(guān)硅片類(lèi)型:
單晶硅片（拋光、粗糙、絨化）
多晶硅片（拋光、粗糙、絨化）
硅片尺寸：125x125 / 156x156 mm

現場(chǎng)使用情況